Manipulation of Nanoparticles for Quantum and Single-Electron Devices
Popular Abstract in Swedish I ett atomkraftsmikroskop avbildar man ytor och föremål genom att känna av ojämnheter med hjälp av en vass spets. Spetsen har en diameter på ca en tusendel av ett hårstrå. I avhandlingen beskrivs en teknik för hur man med denna extremt vassa spets kan manipulera nanometerstora metall- och halvledar partiklar mellan elektroder på en yta för att bygga elektriska komponentIn this thesis a technique to manipulate nanoparticles with an atomic force microscope (AFM) is presented. Particles in the size range of 5-500 nm could be positioned in arbitrary two-dimensional patterns on different surfaces by mechanically pushing them with the AFM tip. The technique which is material-independent can be applied to any type of nanometer-sized particles or objects that are free t
