Data-Driven Exploration of SiC MOSFET Aging Using Symbolic Regression
Tänk dig en typisk morgon, du vaknar och med en simpel blick låser du upp din telefon, din resväg planerar du med Google Maps och i bilen lyssnar du på musik som är noggrant utvald för just dig. Så länge det fungerar, behöver du inte fundera över hur det går till. Men vetenskapsmän nöjer sig inte med att det bara fungerar – de vill förstå. Denna rapport undersöker hur AI kan användas för att hittaThis study explores the relationships between voltage, temperature, and consumed life in silicon carbide (SiC) MOSFETs using symbolic regression as a data-driven tool for deriving interpretable equations. The data comes from an accelerated life-time test performed by RISE. The symbolic regression model was implemented using the open source program ”PySR”. Since real experimental data were used, cl